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系统信息:
  • 系统名称:超低温多物理场量子芯片测试系统

  • 系统功能简介及应用背景: 测试系统可以实现量子芯片Sub-10 K~300 K温区的超低温变温测试,并结合光学、电学、磁学等物理场条件对器件进行非破坏性的测试,获得超低温下量子芯片器件的各项特性,研究器件低温物理机理。为各课题研究工作的顺利开展和进行提供了一个方便和广泛的光学、电学、磁学综合测量平台,为实现功能配合物材料和器件的光电磁性质测定与调控、材料、化学和物理学科的进一步交叉融合提供了条件,为推进适用于量子计算的量子芯片研究提供支持。

设备清单:
  • (1)超低温探针台

  • (2)4SMU+CVU器件测试

  • (3)多物理场测试平台

  • (4)6SMU器件与阵列测试

测试、科研内容:
  •       适用器件:微电子器件、光电器件、纳米器件、量子器件、渐变磁性半导体,高低自旋转换体系,有机共轭半导体。

  •       操作温度:6.5K~400K。

  • (1)超低温电学测试:高精度同步电流电压曲线测试、电容-电压曲线测试。

  • (2)超低温磁场输运测试:变温变磁场下的载流子输运测量。

  • (3)超低温下材料和器件的光电特性:光场下对载流子的调控行为。

  • (4)超低温下材料和器件的电滞特性:铁电材料和器件的滞回特性。

  • (5)超低温下材料和器件的微波特性。

  • (6)超低温下材料和器件的光波特性。

  • (7)超低温下量子效应:量子线和点,量子隧道效应,单电子隧道效应。

  • (8)超低温下场效应晶体管的噪声测试:随机电报噪声,1/f 噪声。

  • (9)超低温下器件可靠性退化测试:偏压温度不稳定性,热载流子效应。

系统图片: